9030 82 00: Equipos de prueba de semiconductores: Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

Los instrumentos y los aparatos para la medida o el control de magnitudes eléctricas o de magnitudes no eléctricas, pero reconocibles como utilizables principalmente para la medida o el control de magnitudes eléctricas, se clasifican en esta partida de acuerdo con la Regla general 3 b) para la interpretación de la nomenclatura combinada. Es el caso, por ejemplo, de los osciloscopios y de los oscilógrafos catódicos y de los oscilógrafos de radiaciones luminosas o de radiaciones ultravioletas (UV) (subpartida9030 20 00).

Sin embargo, se excluyen de esta subpartida los instrumentos y los aparatos cuyo carácter esencial no pueda determinarse, por estar indiferentemente concebidos para la medida o el control de magnitudes eléctricas y de magnitudes no eléctricas. Esto sucede con los aparatos para el control de los motores y de la instalación de encendido de los vehículos automóviles, aparatos que miden tanto magnitudes eléctricas (como tensión, resistencia) como magnitudes no eléctricas (por ejemplo: número de vueltas, ángulo de levas, estado del interruptor), que se clasifican, por aplicación de la Regla general 3 c) para la interpretación de la nomenclatura combinada, en la partida 9031.

Se clasifican en esta subpartida los aparatos o sistemas eléctricos de ensayo que permiten establecer, por medida o control de magnitudes eléctricas (por ejemplo: frecuencia, tensión), la aptitud funcional, de discos (discos o «wafers»), de microplaquitas o de otros dispositivos semiconductores, indicando posibles defectos (por ejemplo: desviaciones respecto a los valores tipo previamente introducidos, interrupciones).

Estos aparatos o sistemas comprenden, generalmente, una unidad de medida o de control (provista de un teclado de introducción, de memoria de programa y de un visualizador de datos) que efectúa la medida, compara el resultado con valores tipo previamente introducidos e indica el resultado, una unidad de mando o gobierno (constituida por una máquina automática para tratamiento o procesamiento de datos o por microprocesadores), una impresora que reproduce el resultado del ensayo y una clasificadora que selecciona las piezas examinadas según los diferentes valores reales y separa las piezas defectuosas.

Sin embargo, no se clasifican en esta subpartida los aparatos para controlar si las cápsulas de los circuitos integrados o de otros componentes electrónicos están herméticamente cerradas (partida 9031).